X射线探伤

亦称“伦琴射线探伤”。材料缺陷无损检验方法之一。常用以检查金属材料或其制件的内部宏观缺陷。因X射线对不同的物质具有不同的穿透能力，故穿过检查物的X射线可以在感光底片上将缺陷的阴影显示出来，从而对缺陷的大小、形状及部位等作出鉴定。